APT是一個程序開發(fā)語言，Automatic Test Pattern Generation(ATPG)自動測試向量生成是在半導(dǎo)體電器測試中使用的測試圖形向量由程序自動生成的過程。測試向量按順序地加載到器件的輸入腳上，輸出的信號被收集并與預(yù)算好的測試向量相比較從而判斷測試的結(jié)果。ATPG有效性是衡量測試錯誤覆蓋率的重要指標(biāo)。

外文名

Automatic Test Pattern Generation(ATPG)

屬性

程序開發(fā)語言

簡稱

ATPG

簡介

自動測試圖樣產(chǎn)生

（英語：

Automatic test pattern generation, ATPG

）系統(tǒng)是一種工具，產(chǎn)生資料給制造出來后的數(shù)字電路作測試使用。

超大規(guī)模集成電路的測試平臺，要達到非常高的錯誤涵蓋率（Fault coverage）是非常困難的工作，因為它的復(fù)雜度很高。針對組合邏輯電路（Combinatorial logic）和時序邏輯電路（Sequential logic）的電路測試，必須要使用不同的 ATPG 方法。

階段

一個ATPG的周期可以分為兩個階段：

1、測試的生成

2、測試的應(yīng)用

在測試的生成過程中，針對電路的設(shè)計的測試模型在Gate或Transistor Level產(chǎn)生，以使錯誤的電路能夠被該模型所偵測。這個過程基本上是個數(shù)學(xué)過程，可以通過以下幾個方法獲得：

1、手工方法

2、算法產(chǎn)生

3、偽隨機產(chǎn)生－－軟件通過復(fù)雜的ATPG程序產(chǎn)生測試圖形向量

在創(chuàng)建一個測試時，我們的目標(biāo)應(yīng)該是在有限存儲空間內(nèi)執(zhí)行高效的測試圖形向量。由此可見，ATPG需要在滿足一定錯誤覆蓋率的條件下，產(chǎn)生盡可能少的測試向量。主要考慮到下述因素：

1、建立最小測試組所需要的時間

2、測試圖形向量的大小，軟件、硬件的需求

3、測試過程的長度

4、加載測試圖形向量所需的時間

5、外部設(shè)備

算法

現(xiàn)在被廣泛使用的ATPG算法包括：D算法，PODEM算法和FAN算法。任何算法都需要一種叫“path sensitization”的技術(shù)，它指的是在電路中尋找一條路徑以使得路徑中的錯誤都能表現(xiàn)在路徑的輸出端。

最廣泛應(yīng)用的算法是D算法，D代表1而D'代表0，D和D'互補。具體的方法在此不再贅述。

ATPG產(chǎn)生過程包含以下步驟：

1、錯誤選擇，選擇需要測試的錯誤

2、初始，尋找合適的輸入向量集

3、傳輸向量集

4、比較結(jié)果

可測試性設(shè)計

可測試性設(shè)計

（英語：

Design for Testability, DFT

）是一種集成電路設(shè)計技術(shù)，它將一些特殊結(jié)構(gòu)在設(shè)計階段植入電路，以便設(shè)計完成后進行測試。電路測試有時并不容易，這是因為電路的許多內(nèi)部節(jié)點信號在外部難以控制和觀測。通過添加可測試性設(shè)計結(jié)構(gòu)，例如掃描鏈等，內(nèi)部信號可以暴露給電路外部?？傊?，在設(shè)計階段添加這些結(jié)構(gòu)雖然增加了電路的復(fù)雜程度，看似增加了成本，但是往往能夠在測試階段節(jié)約更多的時間和金錢。