GJB 霉菌試驗(yàn). GJB4.10

正文

長霉試驗(yàn)就是檢測產(chǎn)品抗霉菌的能力和在有利于霉菌生長的條件下（即高濕溫暖的環(huán)境中和有無機(jī)鹽存在的條件下），設(shè)備是否受到霉菌的有害影響。

長霉試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)有：

GJB 150.10-1986軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法　霉菌試驗(yàn)

HB 6167.11-1989 民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備環(huán)境條件和試驗(yàn)方法 霉菌試驗(yàn).

GJB4.10 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 霉菌試驗(yàn)

GB T 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則 長霉

GB/T10588-2002 GB 10588-89

由于霉菌試驗(yàn)的特殊要求，目前能進(jìn)行霉菌試驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)室非常少，好像就梓愷環(huán)境可靠性與電磁兼容試驗(yàn)服務(wù)中心、空軍某研究所。