間接方法
間接方法是用一些測(cè)量參數(shù)或用光學(xué)儀器得到葉面積指數(shù),測(cè)量方便快捷,但仍需要用直接方法所得結(jié)果進(jìn)行校正。 1、點(diǎn)接觸法
點(diǎn)接觸法是用細(xì)探針以不同的高度角和方位角刺入冠層,然后記錄細(xì)探針從冠層頂部到達(dá)底部的過(guò)程中針尖所接觸的葉片數(shù)目,用以下公式計(jì)算. 式中,LAI為葉面積指數(shù),n為探針接觸到的葉片數(shù),G(θ)為投影函數(shù),θ為天頂角.
當(dāng)天頂角為57.5°時(shí),假設(shè)葉片隨機(jī)分布和葉傾角橢圓分布,則冠層葉片的傾角對(duì)消光系數(shù)K的影響最小,此時(shí)采用32.5°傾角刺入冠層,會(huì)得出較準(zhǔn)確的結(jié)果,用以下公式計(jì)算. 點(diǎn)接觸法是由測(cè)定群落蓋度的方法演進(jìn)而來(lái)的,在小作物L(fēng)AI的測(cè)量中較準(zhǔn)確,但在森林中應(yīng)用比較困難,主要是由于森林植物樹(shù)體高大以及針葉樹(shù)種中高密度的針葉影響了測(cè)定。
2、消光系數(shù)法
該法通過(guò)測(cè)定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)該法通過(guò)測(cè)定冠層上下輻射以及與消光系數(shù)相關(guān)的參數(shù)來(lái)計(jì)算葉面積指數(shù),前提條件是假設(shè)葉片。隨機(jī)分布和葉傾角呈橢圓分布,由Beer-Lambert定 律知:
式中:LAI為葉面積指數(shù),Q0和Q分別為冠層上下部的太陽(yáng)輻射,k為特定植物冠層的消光系數(shù),一般在0.13~1.15變化,其計(jì)算公式為:
其中x為葉傾角分布參數(shù),θ為天頂角。消光系數(shù)k與植物種類、天頂角、葉片傾角以及非葉生物量有關(guān),在確定時(shí)常需要根據(jù)經(jīng)驗(yàn)公式獲得,如關(guān)德新等在研究長(zhǎng)白山針闊葉混交林時(shí),利用觀測(cè)結(jié)果反推消光系數(shù)k值。該方法中消光系數(shù)如果能夠準(zhǔn)確地加以測(cè)量,那么得出的葉面積指數(shù)也較準(zhǔn)確. 3、經(jīng)驗(yàn)公式法
經(jīng)驗(yàn)公式法利用植物的胸徑、樹(shù)高、邊材面積、冠幅等容易測(cè)量的參數(shù)與葉面積或葉面積指數(shù)的相關(guān)關(guān)系建立經(jīng)驗(yàn)公式來(lái)計(jì)算。研究表明:葉面積指數(shù)與胸徑平方和樹(shù)高的乘積有顯著的指數(shù)相關(guān)性,邊材面積與葉面積具有很高的相關(guān)性,林冠開(kāi)闊度與葉面積指數(shù)呈較好的指數(shù)關(guān)系。經(jīng)驗(yàn)公式法的優(yōu)點(diǎn)在于測(cè)量參數(shù)容易獲取,對(duì)植物破壞性小,效率較高,然而經(jīng)驗(yàn)公式具有特定性,并不適合于任何樹(shù)種,因而該法的應(yīng)用具有一定的局限性. 4、遙感方法
衛(wèi)星遙感方法為大范圍研究LAI提供了有效的途徑。主要有2種遙感方法可用來(lái)估算葉面積指數(shù),一種是統(tǒng)計(jì)模型法,主要是將遙感圖像數(shù)據(jù)如歸一化植被指數(shù)NDVI、比植被指數(shù)RVI和垂直植被指數(shù)PVI與實(shí)測(cè)LAI建立模型。這種方法輸入?yún)?shù)單一,不需要復(fù)雜的計(jì)算,因此成為遙感估算LAI的常用方法。但不同植被類型的LAI與植被指數(shù)的函數(shù)關(guān)系會(huì)有所差異,在使用時(shí)需要重新調(diào)整、擬合。另一種是光學(xué)模型法,它基于植被的雙向反射率分布函數(shù)是一種建立在輻射傳輸模型基礎(chǔ)上的模型,它把LAI作為輸入變量,采用迭代的方法來(lái)推算LAI.這種方法的優(yōu)點(diǎn)是有物理模型基礎(chǔ),不受植被類型的影響,然而由于模型過(guò)于復(fù)雜,反演非常耗時(shí),且反演估算LAI過(guò)程中有些函數(shù)并不總是收斂的. 5、光學(xué)儀器法
光學(xué)儀器法按測(cè)量原理分為基于輻射測(cè)量的方法和基于圖像測(cè)量的方法.
⑴基于輻射測(cè)量的方法。該方法是通過(guò)測(cè)量輻射透過(guò)率來(lái)計(jì)算葉面積指數(shù),主要儀器有:LAI-2000、AccuPAR、Sunscan、SunfleckceptometerDemon和TRAC(TracingRadiationandArchitectureofCano2pies)等.這些儀器主要由輻射傳感器和微處理器組成,它們通過(guò)輻射傳感器獲取太陽(yáng)輻射透過(guò)率、冠層空隙率、冠層空隙大小或冠層空隙大小分布等參數(shù)來(lái)計(jì)算葉面積指數(shù).前5種儀器都假設(shè)均一冠層、葉片隨機(jī)分布和橢圓葉角分布,在測(cè)量葉簇生冠層時(shí)有困難。而TRAC通過(guò)測(cè)量集聚指數(shù),能有效地解決集聚效應(yīng)的問(wèn)題,使得葉面積指數(shù)計(jì)算可以不用假設(shè)葉片在空間隨機(jī)分布,減小了有效葉面積指數(shù)與現(xiàn)實(shí)葉面積指數(shù)之間計(jì)算的誤差.基于輻射測(cè)量?jī)x器的優(yōu)點(diǎn)是測(cè)量簡(jiǎn)便快速,但容易受天氣影響,常需要在晴天下工作. ⑵基于圖像測(cè)量的方法.該方法是通過(guò)獲取和分析植物冠層的半球數(shù)字圖像來(lái)計(jì)算葉面積指數(shù),儀器主要有CI-100、WINSCANOPY、HemiView、HCP(HemisphericalCanopyPhotography)等,這些圖像分析系統(tǒng)通常由魚(yú)眼鏡頭、數(shù)碼相機(jī)、冠層圖像分析軟件和數(shù)據(jù)處理器組成.其原理是通過(guò)魚(yú)眼鏡頭和數(shù)碼相機(jī)獲取冠層圖像,利用軟件對(duì)冠層圖像進(jìn)行分析,計(jì)算太陽(yáng)輻射透過(guò)系數(shù)、冠層空隙大小、間隙率參數(shù)等,進(jìn)而推算有效葉面積指數(shù)?;趫D像測(cè)量的儀器和方法測(cè)量精度較高,速度則較基于輻射測(cè)量的儀器慢,且常需要對(duì)圖像進(jìn)行后期處理.此外,測(cè)量時(shí)需要均一的光環(huán)境,如黎明、黃昏、陰天等,晴天會(huì)使魚(yú)眼鏡頭低估或者高估太陽(yáng)輻射或散射。