異質(zhì)結(jié)雙極晶體管是指發(fā)射區(qū)、基區(qū)和收集區(qū)由禁帶寬度不同的材料制成的晶體管。異質(zhì)結(jié)雙極晶體管與傳統(tǒng)的雙極晶體管不同,前者的發(fā)射極材料不同于襯底材料,后者的整個(gè)材料是一樣的,因而稱為異質(zhì)結(jié)器件。

外文名

heterojunction bipolar transistor

產(chǎn)品介紹

異質(zhì)結(jié)雙極晶體管HBT(HeterojunctionBipolorTransistar)是指發(fā)射區(qū)、基區(qū)和收集區(qū)由禁帶寬度不同的材料制成的晶體管。異質(zhì)結(jié)雙極晶體管的發(fā)射極效率主要由禁帶寬度差決定,幾乎不受摻雜比的限制。這就大大地增加了晶體管設(shè)計(jì)的靈活性。

1998年10月IBM首次量產(chǎn)鍺硅異質(zhì)結(jié)雙極晶體管(SiGe HBT)。由于SiGe HBT具有GaAs的性能,而與硅工藝的兼容性又使其具有硅的低價(jià)格,因此SiGe技術(shù)獲得了長(zhǎng)足的進(jìn)展, SiGe HBT技術(shù)已成為RF集成電路市場(chǎng)的主流技術(shù)之一,并對(duì)現(xiàn)代通信技術(shù)的發(fā)展產(chǎn)生了深遠(yuǎn)的影響。HBT基的射頻集成電路(RFIC)已在蜂窩移動(dòng)電話末級(jí)功率放大器、基站驅(qū)動(dòng)級(jí)、有線電視的光纖線路驅(qū)動(dòng)器上獲得成功,證明HBT的性能比通用的MESFET的性能更好。

產(chǎn)品類型

異質(zhì)結(jié)雙極晶體管類型很多,主要有SiGe異質(zhì)結(jié)雙極晶體管, GaAlAs/GaAs異質(zhì)結(jié)晶體管,和NPN型InGaAsP/InP異質(zhì)結(jié)雙極晶體管, NPN AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)雙極晶體管等.

異質(zhì)結(jié)雙極晶體管是縱向結(jié)構(gòu)的三端器件,發(fā)射區(qū)采用輕摻雜的寬帶隙半導(dǎo)體材料(如GaAs、InP),基區(qū)采用重?fù)诫s的窄帶隙材料(如AlGaAs、InGaAs)。ΔEg的存在允許基區(qū)比發(fā)射區(qū)有更高的摻雜濃度,因而可以降低基極電阻,減小發(fā)射極-基極電容,從而能得到高頻、高速、低噪聲的性能特點(diǎn)。由于ΔEg>0、并且有一定的范圍,所以電流增益也很高,一般直流增益均可做到60以上。特別值得指出的是,用InGaAs作基區(qū),除了能得到更高的電子遷移率外,還有較低的發(fā)射極-基極開(kāi)啟電壓和較好的噪聲特性。它的閾值電壓嚴(yán)格的由ΔEg決定,與普通的FET的閾值電壓由其溝道摻雜濃度和厚度決定相比容易控制、偏差小且易于大規(guī)模集成。這也是HBT重要的特點(diǎn)。HBT的能帶間隙在一定范圍內(nèi)可以任意地進(jìn)行設(shè)計(jì)。

結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

異質(zhì)結(jié)雙極晶體管的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)是具有寬帶隙的發(fā)射區(qū),大大提高了發(fā)射結(jié)的載流子注入效率。HBT的功率密度高,相位噪聲低,線性度好,單電源工作,雖然其高頻工作性能稍遜于PHEMT,但它特別適合在低相位噪聲振蕩器、高效率功率放大器、寬帶放大器中應(yīng)用。

性能比較

下表是RF IC的幾種工藝的性能比較:

最近幾年,除GaAs基的HBT已達(dá)到了相當(dāng)好的速度,如fT=170GHZ以外,InP基的HBT發(fā)展也很快,其最好的器件fT及fmax已超過(guò)200GHZ,SiGeHBT則是近年來(lái)人們十分重視的器件;主要原因是硅的VLSI發(fā)展已很成熟,SiGeHBT可以借用VLSI的工藝較快用到微電子領(lǐng)域。近幾年已有報(bào)導(dǎo)采用商用的超高真空CVD(UHVCD)設(shè)備在8″CMOS線上制作的SiGe外延材料制作的HBT,形成12位數(shù)模轉(zhuǎn)換器,其工作速度達(dá)1GHZ,比硅器件要快很多,而功耗延遲乘積也優(yōu)于已實(shí)用的三五族化合物材料的異質(zhì)結(jié)器件。

典型的InGaAs/InP 單和雙異質(zhì)結(jié)二級(jí)型晶體管(SHBT和DHBT)如下圖:

SHBT和DHBT由多種材料的化合物制成,起始于磷化銦襯底。

InGaAs/InP是一種很重要的HBT材料.InGaAs/InP相比于其他材料的優(yōu)點(diǎn):

InGaAs中的高電子遷移率(GaAs中的1.6倍,Si中的9倍)。瞬時(shí)電子過(guò)沖的程度也比GaAs中的大。所以可以得到較高的ft值。

InGaAs的能帶隙比Si和GaAs的窄,可以制造有低開(kāi)啟電壓( VBE)和低功率耗散的磷化銦HBT。

對(duì)于給定的摻雜級(jí),磷化銦有較高的擊穿電場(chǎng)。

InGaAs表面的復(fù)合速度(10^3cms^-1)比GaAs表面的(10^6cms^-1)小得多。減小了發(fā)射極周圍由表面復(fù)合速度引起基極電流。

比GaAs高的襯底導(dǎo)熱率(0.7vs0.46Wcm/K)。

這種器件與光源和1.3μm 波長(zhǎng)輻射的光電探測(cè)器直接兼容,相當(dāng)于基于Si的光纖中的最低色散波長(zhǎng)。所以它對(duì)OEIC集成很有用。