結(jié)晶學（研究礦物晶體物化性質(zhì)的科學）

基本介紹

這門科學進一步形成晶體生成學、幾何結(jié)晶學、晶體結(jié)構(gòu)學、晶體化學、晶體物理學及數(shù)學結(jié)晶學等分支。結(jié)晶學闡明晶體各個方面的性質(zhì)和規(guī)律，可用來指導(dǎo)對晶體的利用和人工培養(yǎng)。

研究晶體的外部形貌、化學組成、內(nèi)部結(jié)構(gòu)、物理性質(zhì)、生成和變化，以及它們相互間關(guān)系的一門科學。

早期只是作為礦物學的一個分支，其研究對象亦局限于天然的礦物晶體。19世紀，研究范圍逐步擴大到礦物以外的各種晶體，結(jié)晶學才逐漸脫離礦物學而成為一門獨立的學科。

主要分支

現(xiàn)代結(jié)晶學主要包括以下幾分支：

（1）晶體生成學（crystallogeny）：研究天然及人工晶體的發(fā)生、成長和變化的過程與機理，以及控制和影響它們的因素。

（2）幾何結(jié)晶學（gometrical crystallography）：研究晶體外表幾何面體的形狀及其間的規(guī)律性。

（3）晶體結(jié)構(gòu)學（crystallology）：研究晶體內(nèi)部結(jié)構(gòu)中質(zhì)點排而的規(guī)律性，以及晶體結(jié)構(gòu)的不完善性。

（4）晶體化學（crystallochemistry, 亦稱結(jié)晶化學）：研究晶體的化學組成與晶體結(jié)構(gòu)以及晶體的物理、化學性質(zhì)間關(guān)系的規(guī)律性。

（5）晶體物理學（crystallophysics）：研究晶體的各項物理性質(zhì)及其產(chǎn)生的機理。

研究

在X射線衍射晶體學提出之前，人們對晶體的研究主要集中于晶體的點陣幾何上，包括測量各晶面相對于理論參考坐標系（晶體坐標軸）的夾角，以及建立晶體點陣的對稱關(guān)系等等。夾角的測量用測角儀完成。每個晶面在三維空間中的位置用它們在一個立體球面坐標“網(wǎng)”上的投影點（一般稱為投影“極”）表示。坐標網(wǎng)的又根據(jù)不同取法分為Wolff網(wǎng)和Lambert網(wǎng)。將一個晶體的各個晶面對應(yīng)的極點在坐標網(wǎng)上畫出，并標出晶面相應(yīng)的密勒指數(shù)（Miller Indices），最終便可確定晶體的對稱性關(guān)系。

現(xiàn)代晶體學研究主要通過分析晶體對各種電磁波束或粒子束的衍射圖像來進行。輻射源除了最常用的X射線外，還包括電子束和中子束（根據(jù)德布羅意理論，這些基本粒子都具有

波動性

X射線衍射

中子衍射

以上三種輻射源與晶體學試樣的作用方式有很大區(qū)別：X射線主要被原子（或離子）的最外層價電子所散射；電子由于帶負電，會與包括原子核和核外電子在內(nèi)的整個空間電荷分布場發(fā)生相互作用；中子不帶電且質(zhì)量較大，主要在與原子核發(fā)生碰撞時（碰撞的概率非常低）受到來自原子核的作用力；與此同時，由于中子自身的自旋磁矩不為零，它還會與原子（或離子）磁場相互作用。這三種不同的作用方式適應(yīng)晶體學中不同方面的研究。

基本理論

普通顯微成像的原理是利用光學透鏡組匯聚來自待觀測的物體的可見光，進行多次成像放大。然而，可見光的波長通常要遠大于固體中化學鍵的鍵長和原子尺度，難以與之發(fā)生物理光學作用，因此晶體學觀測學要選擇波長更短的輻射源，如X射線。但一旦使用短波長輻射源，就意味著傳統(tǒng)的“顯微放大”和“實像拍攝”方法將不能（或難以）應(yīng)用到晶體學研究中，因為自然界沒有材料能制造出可以匯聚短波長射線的透鏡。所以要研究固體中原子或離子（在晶體學中抽象成點陣）的排列方式，需要使用間接的方法——利用晶格點陣排列的空間周期性。

晶體具有高度的有序性和周期性，是分析固體微觀結(jié)構(gòu)的理想材料。以X射線衍射為例，被某個固體原子（或離子）的外層電子散射的X射線光子太少，構(gòu)成的輻射強度不足以被儀器檢測到。但由晶體中滿足一定條件（布拉格定律，Bragg's law）的多個晶面上的原子（或離子）散射的X射線由于可以發(fā)生相長干涉，將可能構(gòu)成足夠的強度，能被照相底片或感光儀器所記錄。

各種表示方法

主條目：密勒指數(shù)

晶體中的

晶向

方括號

[100]

在對稱操作中等價的一組晶向稱為 晶向族，用

尖括號

晶面的密勒指數(shù)用

圓括號

(100)

與晶向族的定義類似，在對稱操作中等價的一組晶面稱為 晶面族，用 花括號括起，如

{100}

實驗技術(shù)

晶體學研究的某些材料，如蛋白質(zhì)，在自然狀態(tài)下并非晶體。培養(yǎng)蛋白質(zhì)或類似物質(zhì)晶體的典型過程，是將這些物質(zhì)的水溶液靜置數(shù)天、數(shù)周甚至數(shù)月，讓它通過蒸發(fā)、擴散而結(jié)晶。通常將一滴溶有待結(jié)晶物質(zhì)分子、緩沖劑和沉淀劑的水溶液置于一個放有吸濕劑的密封容器內(nèi)，隨著水溶液中的水慢慢蒸發(fā)，被吸濕劑吸收，水溶液濃度緩慢增加，溶質(zhì)就可能形成較大的結(jié)晶。如果溶液的濃度增加速度過快，析出的溶質(zhì)則為大量取向隨機的微小顆粒，難以進行研究。

晶體獲得后，便可以通過衍射方法對其進行研究。盡管當今許多大學和科研單位均使用各種小型X射線源進行晶體學研究，但理想的X射線源卻是通常體積龐大的同步加速器（同步輻射光源）。同步輻射X射線波譜寬、強度和準直度極高，應(yīng)用于晶體學研究可大大提高精確度和研究效率。

從晶體的衍射花樣推測晶體結(jié)構(gòu)的過程稱為

衍射花樣的標定

除上述針對晶體的衍射分析方法外，纖維和粉末也可以進行衍射分析。這類試樣雖然沒有單晶那樣的高度周期性，但仍表現(xiàn)出一定的有序度，可利用衍射分析得到其內(nèi)部分子的許多信息。譬如，DNA分子的雙螺旋結(jié)構(gòu)就是基于對纖維試樣的X射線衍射結(jié)果的分析而提出，最終得到驗證的。

材料學應(yīng)用

晶體學是材料科學家常常使用的研究工具。若所要研究物質(zhì)為單晶體，則其原子排布結(jié)構(gòu)直接決定了晶體的外形。另外，結(jié)晶材料的許多物理性質(zhì)都極大地受到晶體內(nèi)部缺陷（如雜質(zhì)原子、位錯等等）的影響，而研究這些缺陷又必須以研究晶體結(jié)構(gòu)作為基礎(chǔ)。在多數(shù)情況下，研究的材料都是多晶體，因此粉末衍射在確定材料的微觀結(jié)構(gòu)中起著極其重要的作用。

除晶體結(jié)構(gòu)因素外，晶體學還能確定其他一些影響材料物理性質(zhì)的因素。譬如：粘土中含有大量細小的鱗片狀礦物顆粒。這些顆粒容易在自身平面方向作相對滑動，但在垂直自身平面的方向則極難發(fā)生相對運動。這些機制可以利用晶體學中的織構(gòu)測量進行研究。

晶體學在材料科學中的另一個應(yīng)用是

物相分析

晶體學理論涉及各種空間點陣對稱關(guān)系的枚舉，因此常需借助數(shù)學中的群論進行研究。

生物學應(yīng)用

X射線晶體學是確定生物大分子，尤其是蛋白質(zhì)和核酸（如DNA、RNA）構(gòu)象的主要方法。DNA分子的雙螺旋結(jié)構(gòu)就是通過晶體學實驗數(shù)據(jù)發(fā)現(xiàn)的。1958年，科學家（Kendrew, J.C. et al.）首次通過研究生物大分子的晶體結(jié)構(gòu)，利用X射線分析方法得到了肌紅蛋白分子的空間模型（Nature 181, 662–666）。如今，研究人員已建立起了蛋白質(zhì)數(shù)據(jù)庫（Protein Data Bank，PDB），將已測明的蛋白質(zhì)和其他生物大分子的結(jié)構(gòu)供人們免費查詢。利用蛋白質(zhì)結(jié)構(gòu)分析軟件RasMol，還可對數(shù)據(jù)進行可視化。

中子射線晶體學可以與X射線晶體學互補，獲得X射線晶體學中經(jīng)常缺失的生物大分子氫原子位置的信息。

電子晶體學應(yīng)用在某些蛋白質(zhì)，如膜蛋白（membrane protein）和病毒殼體蛋白（viral capsid）結(jié)構(gòu)的研究中。

相變晶體學

隨著現(xiàn)代社會對工程材料性能的要求越來越高，對材料研發(fā)周期的要求越來越短，最大限度的發(fā)揮已有材料的性能潛力，同時對新型工程材料進行科學的組織設(shè)計已經(jīng)成為材料科學工作者責無旁貸的歷史使命．在現(xiàn)階段，常見的工程材料仍然主要來自金屬及其合金，而大量金屬材料是通過沉淀強化來獲得最終性能。和其它固態(tài)相變一樣，沉淀相變的過程受相變熱力學、動力學和晶體學的共同控制，其中相變晶體學揭示的是相變過程中兩相之間關(guān)系的晶體學規(guī)律，它主要包括沉淀相與母相的位向關(guān)系，沉淀相的慣習面，界面結(jié)構(gòu)等等，是對相變熱力學和動力學進行定量描述的基本參量，是建立材料組織形成理論的必要知識基礎(chǔ)。在工程應(yīng)用上，人們早已認識到沉淀相的形貌晶體學是影響沉淀強化效果的主要因素，但是由于對沉淀相形貌晶體學的研究相對滯后，很大程度上制約了材料性能潛力的發(fā)揮．在這種背景下，有必要充實相變晶體學的理論，為科學控制材料的顯微組織(特別是對于利用沉淀強化的合金)提供理論依據(jù)^[1]。